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耐辐射线三维金属氧化物半导体场效应晶体管

摘要

本发明涉及耐辐射线三维金属氧化物半导体场效应晶体管(3‑dimensional MOSFET),为了使总剂量效应的影响和单粒子效应的影响最小化,提出选择性地追加虚拟漏极(Dummy Drain;DD)、N阱层(N‑well layer;NW)、深N阱层(Deep N‑well layer;DNW)及P+层(P+layer)中的至少一种的耐辐射线三维金属氧化物半导体场效应晶体管。

著录项

  • 公开/公告号CN110350033A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 韩国科学技术院;

    申请/专利号CN201811546910.4

  • 发明设计人 李熙哲;盧永卓;

    申请日2018-12-18

  • 分类号

  • 代理机构北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人许振强

  • 地址 韩国大田

  • 入库时间 2024-02-19 15:02:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20181218

    实质审查的生效

  • 2019-10-18

    公开

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