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异步光学采样和双光梳集成的太赫兹波谱系统

摘要

本发明提供了一种异步光学采样和双光梳集成的太赫兹波谱系统,具有发射泵浦激光光梳的第一飞秒激光光源、发射探测激光光梳的第二飞秒激光源、第一光电导天线、太赫兹波汇聚组件以及第二光电导天线,泵浦激光光梳和探测激光光梳在频域上的间隔分别为第一预定重复频率和第二预定重复频率,在第一光电导天线上施加第一偏置电压,使第一预定重复频率下降到太赫兹频段形成发射太赫兹波光梳,使用太赫兹波汇聚组件对太赫兹波光梳进行传递并汇聚形成聚焦点,聚焦点位于第二光电导天线上,发射太赫兹波光梳和探测激光光梳通过多频外差过程产生射频域外差光梳信号。

著录项

  • 公开/公告号CN110376156A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201910692903.3

  • 发明设计人 付荟;郭旭光;蒋兴乐;朱亦鸣;

    申请日2019-07-30

  • 分类号G01N21/3586(20140101);G01J3/28(20060101);

  • 代理机构31204 上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人程宗德

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2024-02-19 14:44:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/3586 申请日:20190730

    实质审查的生效

  • 2019-10-25

    公开

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