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一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置

摘要

本发明涉及一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置,弯晶谱仪包括位于同一水平高度且依次连接的入射臂、波纹管、晶体腔体、出射臂和探测器,通过谐振安装的方式安装弯晶谱仪,具体为:将入射臂固定于设置于地面上的第一支撑架上;将晶体腔体、出射臂和探测器分别固定于设置于地面上且与地面减振隔离的减振平台上。本发明通过谐振安装来消除托卡马克装置运行振动对弯晶谱仪测量影响,具体通过将晶体腔体、出射臂和探测器腔体以一体化形式安装在加固的减振平台上,既减少弯晶谱仪振动振幅,又可避免晶体腔体和探测器间发生相对振动,保证了探测器像素点探测的是多普勒平移效应,提高了测量精度和可靠性,且结构简单。

著录项

  • 公开/公告号CN110361406A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201910617593.9

  • 发明设计人 严伟;王铎钦;陈忠勇;

    申请日2019-07-10

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2024-02-19 14:35:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20190710

    实质审查的生效

  • 2019-10-22

    公开

    公开

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