硬X光弯晶谱仪的定量化标定方法

摘要

介绍了具有定量化测量能力的硬X光弯晶谱仪的结构,利用Mo靶X光管的K特征线作为标定源,使用绝对标定过的Si(Li)探测器对X光管出射的特征线谱进行强度和谱测量.结合X光管空间分布均匀的特点,计算进入弯晶谱仪的光子数目,采取了特征谱扣去轫致谱的计数处理方法,得到了17 keV和19keV处弯晶谱仪的绝对效率,分别为4.32×10-4和3.94×10-4.