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一种基于单斜ADC的高速数字相关双采样电路结构

摘要

本发明公开一种基于单斜ADC的高速数字相关双采样电路结构,包括用于执行A/D转换操作的比较器U1、比较器U2;比较器U1用来比较来自像素单元复位并输出的复位信号Vrst和斜坡发生器形成的一个斜坡信号Vramp,比较器U2用于比较来自像素单元曝光结束后输出的曝光信号Vsig和所述斜坡发生器形成的所述斜坡信号Vramp,所述比较器U1、比较器U2与像素单元之间分别设保持电容CH1、保持电容CH2分别用于保存像素单元所输出的复位信号Vrst以及曝光信号Vsig。本发明在减小固定模式噪声的同时又能提高电路的工作频率。

著录项

  • 公开/公告号CN110213513A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201910376826.0

  • 申请日2019-05-07

  • 分类号H04N5/374(20110101);H04N5/357(20110101);H04N5/365(20110101);

  • 代理机构12107 天津市三利专利商标代理有限公司;

  • 代理人韩新城

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2024-02-19 14:26:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N5/374 申请日:20190507

    实质审查的生效

  • 2019-09-06

    公开

    公开

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