首页> 中国专利> 一种基于余弦测度的改进PCA-SIFT图像配准方法

一种基于余弦测度的改进PCA-SIFT图像配准方法

摘要

本发明公开了一种在实现SIFT特征描述符的降维技术基础上,结合欧式距离度量与余弦相似测度度量进行特征匹配的方法。根据PCA可以实现降低维度的特点,首先实现传统128维SIFT描述符的降维。在此基础上,结合欧式距离与余弦相似度,分别在距离与方向上进行特征点相似度的计算,从而实现快速、精确的图像特征匹配。

著录项

  • 公开/公告号CN110210511A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201910316074.9

  • 发明设计人 王伟波;刘鹏飞;吴必伟;

    申请日2019-04-19

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市西大直街92号

  • 入库时间 2024-02-19 14:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20190419

    实质审查的生效

  • 2019-09-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号