一种在应用程序中测试内存组件的测试夹具及测试方法

摘要

本发明提供了一种在应用程序中测试内存组件的测试夹具及测试方法，设置DUT插槽电连接器至少用于半导体元件的X个有源电信号以及平面元件如PCB或其他具有至少两个安装在该平面元件上的插座和至少一个连接器元件的元件；所述半导体元件的X个有源电信号从所述插座连接到所述平面元件，并通过所述平面元件路由到所述连接器元件，实现测试夹具的电路设计。本发明中的测试夹具可以安装在应用主板中，从而可以更加真实的模拟真实应用，DUT插槽可承受高热应力，且容易替换，从而在插槽到DUT损坏时可快速更换。另外通过可编程元件来存储信息，方便唯一识别。本发明大大降低了内存组件的测试成本，提高了测试效率。