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偏振分析装置及偏振分析装置的控制方法

摘要

本发明涉及一种偏振分析装置及偏振分析装置的控制方法。所述偏振分析装置包括:光源,所述光源将光发射到样品;液晶面板,所述液晶面板输出来自激发状态的样品发射的光的特定方向的偏振光;图像传感器,所述图像传感器测量偏振光亮度;以及控制器,所述控制器控制液晶面板和图像传感器。控制器配置成:计算矩形波的基准电压;通过校正矩形波中的基准电压来计算校正的基准电压,在所述矩形波中,基准电压的绝对值响应于相位变化而变化;将基准电压和校正的基准电压施加到液晶面板;根据曝光时间操作图像传感器,以测量偏振光的亮度;以及基于测量结果来计算样品的偏振度。

著录项

  • 公开/公告号CN110320185A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天马日本株式会社;

    申请/专利号CN201910230708.9

  • 发明设计人 沟口亲明;

    申请日2019-03-26

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01J4/00(20060101);

  • 代理机构11291 北京同达信恒知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄志华;何月华

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2024-02-19 13:49:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-11

    公开

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