基于介质谱的超导电缆PPLP绝缘检测方法及系统

摘要

本发明涉及一种基于介质谱的超导电缆PPLP绝缘检测方法及系统，其中的检测方法包括以下步骤：S1、对试品施加不同频率的激励电压，通过测量试品的电压和电流，计算不同频率下试品的阻抗值、复电容和介质损耗；S2、根据复电容、介质损耗以及对应的频率，获取试品的老化程度，即试品的绝缘检测结果。与现有技术相比，本发明是在不同的频率点上对PPLP的复电容、介质损耗进行测量计算，通过频率曲线的绘制以及拟合比对，评估试品的老化程度，能全面有效的对PPLP绝缘性能进行检测。