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一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置

摘要

本发明提供一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置,包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置;所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内,且加热装置设置在密封坩埚的周围,所述收集皿与密封坩埚的下部相连;所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道核第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔;所述第一支管道与密闭容器相通,所述第二支气管道与密封坩埚相通,所述主管道上安装有气体流量计,所述第二支气管道上安装有压力;本发明采集雾化场中所有的液滴并冷却成固体颗粒,成功解决了现有方法及装置分辨率不足,且不能测量雾化场总体的粒径分布以及雾化率的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN110208150A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN201910452067.1

  • 发明设计人 张智刚;马瑶龙;王赟;

    申请日2019-05-28

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

  • 入库时间 2024-02-19 13:40:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20190528

    实质审查的生效

  • 2019-09-06

    公开

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