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用于检测可切换光学元件的基板破裂的方法和可切换光学器件

摘要

提供了用于检测至少一个可切换光学元件(10)的基板(A,B)的破裂的方法。所述至少一个可切换光学元件(10)包括第一基板(A)和第二基板(B),所述第一基板(A)涂覆有第一电极和所述第二基板(B)涂覆有第二电极,和可切换层(14),所述可切换层(14)夹在所述第一基板(A)和第二基板(B)之间。所述方法包括:i)测量基板(A,B)的两个触头处测量的差分信号的改变,或ii)测量所述两个基板(A,B)之间的电容的改变,或iii)测量所述基板(A,B)的至少一个的电阻的改变,或iv)测量施加到所述可切换光学元件(10)的电流的改变。还提供了可切换光学器件,其具有构造为进行所述方法的可切换光学元件(10)。

著录项

  • 公开/公告号CN110178075A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 默克专利股份有限公司;

    申请/专利号CN201880007040.5

  • 发明设计人 T·德容;P·巴克尔;

    申请日2018-01-24

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人陈晰

  • 地址 德国达姆施塔特

  • 入库时间 2024-02-19 13:17:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20180124

    实质审查的生效

  • 2019-08-27

    公开

    公开

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