基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法，通过软件程序实现DSP芯片和FPGA芯片的主从控制关系，电路系统中的FPGA和DSP芯片中加载程序，能够测试具有FPGA+DSP架构及有多个外部设备的数字电路，并能够验证FPGA与DSP芯片之间的通信、控制功能是否正常，从而完全验证电路系统是否正常工作。本发明能够对具有FPGA+DSP架构及所有相关外部设备的电路进行功能测试，测试结果快速、可靠。