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用于层转移的位错过滤系统和方法

摘要

一种制造半导体器件的方法包括在第一基底上形成第一外延层。第一基底包括具有第一晶格常数的第一半导体材料,并且第一外延层包括具有与第一晶格常数不同的第二晶格常数的第二半导体材料。该方法还包括在第一外延层上设置石墨烯层,以及在石墨烯层上形成包括第二半导体材料的第二外延层。该方法可以提高基底的重复使用性,提高功能层的释放速率,并且实现对剥离厚度的精确控制。

著录项

  • 公开/公告号CN110050335A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 麻省理工学院;

    申请/专利号CN201780075423.1

  • 发明设计人 金知桓;李屈桑;

    申请日2017-11-08

  • 分类号H01L21/683(20060101);H01L21/306(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡胜有;苏虹

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2024-02-19 12:36:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/683 申请日:20171108

    实质审查的生效

  • 2019-07-23

    公开

    公开

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