首页> 中国专利> 一种基于激光外差探测的高分辨率成像系统及方法

一种基于激光外差探测的高分辨率成像系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于激光外差探测的高角分辨率成像系统及方法,包括激光器,用于向外发射激光光束;光分束器,用于将来自激光器的光束分为两路;两个声光移频器,将一路光移频后传输给发射模块,另一路移频不同量后经反射镜传输给接收模块作为本振光;发射模块,将一路光照射到目标表面产生反射信号光;接收模块,用于接收本振光和反射信号光,实现本振光的高角分辨率偏转,匹配不同入射角的信号光,完成高角分辨率成像。外差探测中,本振光和信号光夹角必须在很小的范围内,探测器输出的外差信号才有足够的强度,本发明利用这一特点,提高系统的角分辨率,以此实现远距离目标或小目标的高角分辨率成像,系统组成简单,应用中容易实现。

著录项

  • 公开/公告号CN110109139A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910408772.1

  • 发明设计人 董洪舟;敖明武;杨春平;刘永;

    申请日2019-05-16

  • 分类号G01S17/89(20060101);G01S7/481(20060101);

  • 代理机构51241 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李鹏

  • 地址 610054 四川省成都市成华区建设北路二段四号

  • 入库时间 2024-02-19 12:22:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S17/89 申请日:20190516

    实质审查的生效

  • 2019-08-09

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号