微处理器体系结构级软错误易感性评估方法

摘要

本发明是微处理器体系结构级软错误易感性评估方法。本发明从存储部件和非存储部件两个方面对微处理器的部件进行软错误易感性评估。对于非存储部件，首先采用指令分析的方法，对ACE指令与un‑ACE指令进行分类。在指令分析的过程中，将逻辑屏蔽指令划分为ACE指令。但是逻辑屏蔽指令中仍然包含un‑ACE位，发生软错误时并不会对程序执行结果产生影响。因此本发明通过逻辑分析找出更多的un‑ACE位；对于存储部件，同样先进行指令分析并采用逻辑校正模块，找到更多的un‑ACE位。同时，对存储部件进行生命周期分析，从而对存储部件进行软错误易感性评估。本发明通过采用逻辑校正模块提供了一种更准确的软错误易感性评估方法。