一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法

摘要

本发明公开一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法，包括对待测镁合金进行声发射检测，以断铅信号作为激励信号，测量待测镁合金激励信号的能量衰减率，通过声衰减系数，并与相同检测条件下的基准无LPSO结构镁合金进行对比，评估镁合金是否存在LPSO结构。待测镁合金材料的声衰减系数少于无LPSO结构镁合金材料的声衰减系数1dB/cm以上，待测镁合金材料有LPSO结构；反之，待测镁合金材料无LPSO结构。本发明对镁合金LPSO结构检测评估时，不会对被检测材料造成破坏，能够保持材料结构和功能的完整。同时，面对大批量的镁合金材料，本发明通过不同声衰减系数来评估镁合金有无LPSO结构，该评估方法简单且效率高，是一种基于声发射技术的镁合金LPSO结构评估方法。