首页> 中国专利> 一种功率MOSFET器件雪崩耐量的测试装置

一种功率MOSFET器件雪崩耐量的测试装置

摘要

本发明公开了一种功率MOSFET器件雪崩耐量的测试装置,包括前端的被测功率MOSFET器件及其外围测试电路以及后端的采样控制系统;测试电路包括可调直流电源、保险丝、可调电感、电压采样电阻、分压电阻和电流采样电阻,采样控制系统包括运放模块、AD模块、CPU模块、驱动模块和上位机。本发明测试装置操作安全,设备简单,成本较低,测试结果客观,能在上位机显示被测MOSFET功率器件的漏极‑源极电压和流过漏极‑源极的电流波形,同时实现高瞬间能量雪崩耐量测试,为器件性能评估提供重要的参数指标。

著录项

  • 公开/公告号CN109884492A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201910142379.2

  • 申请日2019-02-26

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构33224 杭州天勤知识产权代理有限公司;

  • 代理人王琛

  • 地址 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2024-02-19 11:00:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20190226

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号