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一种基于图像特征识别技术的非接触位移应变测量方法

摘要

本发明提出了一种基于图像特征识别和匹配的非接触式位移应变测量方法;该方法所需实验设备和过程都比较简单,实验过程仅需用一个摄像机拍摄被测材料变形前后的数字图像。被测材料的表面自然纹理可以作为标记散斑,如果被测材料的表面很均衡,也可以通过人工制作散斑技术获得。相对来说,基于图像处理的位移和应变的测量技术计算简单,可行性强。非接触类型的无损耗的测量方法,不会损耗材料的材质和特性,得到的数据更加精准,实现自动数据处理,可以得到全场位移和材料结构件的宽度等变化值,且对环境要求比较低。

著录项

  • 公开/公告号CN109883333A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201910191768.4

  • 发明设计人 余泽川;梁春阳;巩华帅;

    申请日2019-03-14

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01B11/16(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王琪

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2024-02-19 10:55:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20190314

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

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