人工智能模块的单元性能测试方法和系统芯片

摘要

一种人工智能AI模块的单元性能测试方法和包括该AI模块的系统芯片。在实施例中，所述AI模块包括：排列成二维阵列的多个处理单元，各处理单元能够完成乘加运算；其中，处理单元包括使能输入端，用于接收使能信号，并且根据使能信号暂停或启动处理单元的操作；可以对所述多个处理单元中具有与待测试处理单元相同第一维度值和/或第二维度值的处理单元配置为旁路状态，以便实现对所述待测试处理单元进行性能测试；二维阵列中的各处理单元共用同一个时钟信号进行运算。通过赋予处理单元以旁路功能，可以更为便利地对AI模块进行测试。