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存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置

摘要

本发明公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置,属于存储设备技术领域。在训练存储模块时,通过识别存储模块是否通过训练,可初步判断存储模块是否存在异常,对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块,以使存储模块进行检测,避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测,通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题,提供了检测的效率,缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时,可逐个对每个存储模块依次进行检测,防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机,无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109828878A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 晶晨半导体(上海)股份有限公司;

    申请/专利号CN201910108386.0

  • 发明设计人 欧阳志光;叶佳星;邓海东;

    申请日2019-01-18

  • 分类号

  • 代理机构上海申新律师事务所;

  • 代理人俞涤炯

  • 地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区碧波路518号207室

  • 入库时间 2024-02-19 10:24:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/22 申请日:20190118

    实质审查的生效

  • 2019-05-31

    公开

    公开

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