基于巯基丁二酸修饰的CdTe量子点的纸芯片检测银离子和丝氨酸的方法

摘要

本发明涉及纸芯片传感领域，尤其涉及一种基于巯基丁二酸修饰的CdTe量子点的纸芯片检测银离子和丝氨酸的方法。基于巯基丁二酸修饰的CdTe量子点纸芯片检测银离子的方法，其特征在于，包括步骤：(1)巯基丁二酸修饰的CdTe量子点的制备；(2)巯基丁二酸修饰的CdTe量子点的纸芯片的制备；(3)制作银离子标准比色卡；(4)检测试样的银离子。与现有银离子和丝氨酸的检测方法相比，本发明基于纸芯片检测银离子和丝氨酸具有制备简单、可快速现场检测、成本低、响应速度快、灵敏度和选择性高的特点，而且纸芯片对银离子和丝氨酸具有特异性反应，可用于复杂基质水样品中银离子或丝氨酸的检测。