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一种激光熔覆熔覆层致密度测量方法

摘要

本发明提出一种激光熔覆熔覆层致密度测量方法,只需要激光熔覆之后线切割任意位置任意大小的熔覆层,进行表面打磨和去污干燥即可直接按照本发明方法进行致密度的测定,具有无需腐蚀、评价精确、测量环境优越,操作简单,结果分析准确等优点,为激光熔覆过程工艺的选择提供了快速、准确和有效的实验依据。

著录项

  • 公开/公告号CN109738332A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201910024244.6

  • 申请日2019-01-10

  • 分类号G01N9/02(20060101);

  • 代理机构31312 上海邦德专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人余昌昊

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2024-02-19 09:44:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N9/02 申请日:20190110

    实质审查的生效

  • 2019-05-10

    公开

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