首页> 中国专利> 一种基于巴克豪森效应的微推力测量系统

一种基于巴克豪森效应的微推力测量系统

摘要

本发明提出了一种基于巴克豪森效应的微推力测量系统,本发明的基于巴克豪森效应的微推力测量系统根据电推进推力的特点,基于逆磁致伸缩效应(磁弹性原理)和巴克豪森效应,在推力器对磁弹性元件施加推力后,通过测定巴克豪森噪声的变化得到磁弹性元件内部应力的变化,进而获得推力的大小及变化情况。本发明的基于巴克豪森效应的微推力测量系统结构简单、操作便捷、可靠性高,此外其检测灵敏度和准确度高,能够实时测量应力的变化,能够精确测量电推力器的微小瞬态推力。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L1/12 申请日:20190107

    实质审查的生效

  • 2019-04-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号