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一种基于自适应投影图像特征区域匹配的微纳CT焦点漂移校正方法

摘要

本发明涉及一种基于自适应投影图像特征区域匹配的微纳CT焦点漂移校正方法,属于CT成像技术领域。该方法包括:S1:扫描被测物体,获得一组实际投影图像;S2:在不停束的情况下,保持其他扫描参数不变,立即进行一次少量视角、短时间的CT扫描,获得一组参考投影图像;S3:比较对应视角下的实际投影图像与参考投影图像,通过自适应特征区域匹配,获得相应视角下的焦点漂移量;S4:采用三次样条插值计算其余视角下的焦点漂移量,获得所有视角下实际投影数据的漂移量;S5:修正实际投影图像,并进行图像重建,获得被测物体清晰的CT三维图像。本发明能够精确、快速校正焦点漂移量,既节省检测时间又减少设备损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN109685877A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201811613786.9

  • 申请日2018-12-27

  • 分类号

  • 代理机构北京同恒源知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵荣之

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号

  • 入库时间 2024-02-19 09:26:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T15/00 申请日:20181227

    实质审查的生效

  • 2019-04-26

    公开

    公开

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