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探针测试装置以及探针测试装置的工作方法

摘要

一种探针测试装置以及探针测试装置的工作方法,探针测试装置包括:基台,用于放置待测衬底,所述待测衬底表面具有测试衬垫;探针,用于接触所述测试衬垫以进行测试;温度传感器,用于获取进行测试时的所述探针的温度;数据处理单元,用于通过所述探针的温度获取探针调整信息;微调装置,用于根据所述调整信息移动所述探针。所述探针测试装置自动测量探针的温度,调节探针的位置,减小了测量过程中的误差提高了测试的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN109545719A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德淮半导体有限公司;

    申请/专利号CN201811443175.4

  • 发明设计人 张鸣帆;叶定文;

    申请日2018-11-29

  • 分类号H01L21/67(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐文欣;吴敏

  • 地址 223302 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号

  • 入库时间 2024-02-19 09:22:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20181129

    实质审查的生效

  • 2019-03-29

    公开

    公开

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