公开/公告号CN109545719A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-03-29
原文格式PDF
申请/专利权人 德淮半导体有限公司;
申请/专利号CN201811443175.4
申请日2018-11-29
分类号H01L21/67(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人徐文欣;吴敏
地址 223302 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
入库时间 2024-02-19 09:22:25
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-04-23
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20181129
实质审查的生效
2019-03-29
公开
公开
机译: 电线,棒或管的测试装置;具有用于引导测试对象的旋转头和移动的探针支架,用于通过调整装置调整测试探针的引导路径的直径,从而将测试探针围绕对象引导
机译: 用于校准接触位置的探针卡,探针测试装置,用于设置探针卡的方法以及使用用于校准接触位置的探针卡来对探针测试装置进行校准的方法
机译: 探针卡,包括探针卡的测试装置,使用探针卡的测试方法以及制造半导体装置的方法