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数字量产测试机、激励信号获取方法及待测数据比较方法

摘要

本申请公开了一种数字量产测试机、激励信号获取方法及待测数据比较方法,其中,所述数字量产测试机通过向量读取模块读取存储于外部设备中的数字测试向量,使得所述数字测试向量的规模不再受限于FPGA内置的RAM的存储能力的限制,只需设置能够满足存储要求的外部设备即可,并且由于所述时钟模块提供了不同的第一时钟信号和第二时钟信号,使得所述数据缓存模块可以根据所述第一时钟信号和第二时钟信号,以乒乓缓存的方式缓存所述向量读取模块读取的数字测试向量,从而实现存储于外部设备中的数字测试向量的读取和缓存,解决了在量产测试的过程中,由于测试向量的规模较大,而导致的FPGA内置的RAM无法满足存储要求的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109581199A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海艾为电子技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201910056689.2

  • 申请日2019-01-22

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆宗力

  • 地址 201199 上海市闵行区秀文路908弄2号1201室

  • 入库时间 2024-02-19 09:00:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20190122

    实质审查的生效

  • 2019-04-05

    公开

    公开

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