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电磁脉冲纳米半导体器件的电场分析方法

摘要

本发明公开了一种电磁脉冲纳米半导体器件的电场分析方法。该方法步骤如下:第一步,建立MOSFET的求解模型,并采用曲六面体对模型进行剖分,得到模型的结构信息,包括六面体的单元信息及节点信息;第二步,从载流子电流连续性方程、泊松方程和载流子量子修正方程出发,先用后向欧拉进行时间差分,然后对等式采用不连续伽辽金法测试,强加电场边界条件,求解得到各节点的电场及电流分布。本发明在相同计算量的前提下,可以更加清楚的得到在电磁脉冲和电压的作用下,器件内部电场随时间变化的分布情况,在获得相同收敛精度时,可以减少计算量,此外具有建模灵活、剖分方便的优点,形成的矩阵具有良好的稀疏性,求解效率较高。

著录项

  • 公开/公告号CN109543205A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201710867706.1

  • 申请日2017-09-22

  • 分类号

  • 代理机构南京理工大学专利中心;

  • 代理人薛云燕

  • 地址 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号

  • 入库时间 2024-02-19 09:00:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20170922

    实质审查的生效

  • 2019-03-29

    公开

    公开

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