首页> 中国专利> 一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法

一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法

摘要

本发明公开了一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法,包括:将井壁微电阻率扫描成像测井仪置入已知不同电阻率的标准地层中;通过所述井壁微电阻率扫描成像测井仪的阵列电极向标准地层中发射电流,测量不同电阻率环境下仪器各电极的响应读数;根据标准地层电阻率数值与电极响应读数,确定所述井壁微电阻率扫描成像测井仪在不同电阻率区间下响应读数与真电阻率的函数关系,实现井壁微电阻率扫描成像测井仪测量得到的视电阻率向真电阻率的刻度。本发明解决了井壁微电阻率扫描成像测井仪无法直接获取地层真电阻率的问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):E21B49/00 申请日:20181120

    实质审查的生效

  • 2019-04-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号