首页> 中国专利> 在半导体材料层中形成隔离结构的方法和形成沟槽的方法

在半导体材料层中形成隔离结构的方法和形成沟槽的方法

摘要

本公开涉及一种在半导体材料层中形成隔离结构的方法,包括:将所述半导体材料层中的将要形成的所述隔离结构的至少底部区域形成为电介质区域;形成与所述隔离结构对应的沟槽,其中,所述沟槽的底部止于所述电介质区域的顶部;以及在所述沟槽中填入电介质材料以形成所述隔离结构。本公开涉及一种在半导体材料层中形成沟槽的方法。本公开有助于制作过程的简化。

著录项

  • 公开/公告号CN109148355A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德淮半导体有限公司;

    申请/专利号CN201811028511.9

  • 发明设计人 魏代龙;王连红;黄晓橹;

    申请日2018-09-05

  • 分类号H01L21/762(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人田菁

  • 地址 223300 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号

  • 入库时间 2024-02-19 08:33:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 申请日:20180905

    实质审查的生效

  • 2019-01-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号