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光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机

摘要

一种光发射机中的IQ延时差的测量方法、装置和光发射机,其中,所述测量方法包括:探测光发射机输出的调制信号的镜像谱;通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节,测量所述调制信号的镜像谱的移动范围;根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。通过该测量方法,可以简单地实现对光发射机中的IQ延时差的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN109510661A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN201710833555.8

  • 发明设计人 陈浩;陶振宁;

    申请日2017-09-15

  • 分类号H04B10/079(20130101);H04B10/50(20130101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2024-02-19 08:29:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B10/079 申请日:20170915

    实质审查的生效

  • 2019-03-22

    公开

    公开

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