首页> 中国专利> 一种基于半监督学习的晶圆图批量分析方法

一种基于半监督学习的晶圆图批量分析方法

摘要

本发明公开了一种基于半监督学习的晶圆图批量分析方法,该方法包括以下步骤:对晶圆图进行预处理;对预处理后的晶圆图进行筛选;使用有标签及无标签晶圆图训练半监督模型;筛选无标签晶圆图优化半监督模型;进行晶圆图分析。本发明能够利用少量有标签晶圆图建立稳定高效的半监督模型,能在实际生产中准确地完成晶圆图分析。

著录项

  • 公开/公告号CN109146847A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201810792257.3

  • 发明设计人 倪东;孔煜婷;

    申请日2018-07-18

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/187(20170101);G06T7/62(20170101);G06T5/00(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人黄欢娣;邱启旺

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2024-02-19 08:20:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20180718

    实质审查的生效

  • 2019-01-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号