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公开/公告号CN109596656A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-04-09
原文格式PDF
申请/专利权人 东华理工大学;
申请/专利号CN201910031385.0
发明设计人 张焱;汤彬;王仁波;张雄杰;
申请日2019-01-14
分类号G01N23/223(20060101);
代理机构36100 江西省专利事务所;
代理人胡里程
地址 344000 江西省抚州市市辖区抚州市学府路56号
入库时间 2024-02-19 07:58:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-04-09
公开
机译: 全反射荧光X射线分析方法,全反射荧光X射线分析预处理装置以及全反射荧光X射线分析仪
机译: 全反射荧光X射线分析方法及全反射荧光X射线分析装置
机译: 全反射荧光X射线分析装置及全反射荧光X射线分析方法
机译:AP1〜(TM)薄膜上的同步辐射全反射X射线荧光和能量色散X射线荧光分析,用于分析金属合金中的痕量元素,用于构造核反应堆堆芯部件:比较
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