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一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置

摘要

本发明公开一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置,其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备。本发明的优点在于:够快速、有效的样品定位及面积、厚度监测,克服样品的厚度、面积变化对全反射光学的影响,提高TXRF测量准确度。采用全反射X射线荧光分析原理,能够快速检测样品中痕量重金属的含量,简单快捷并且低成本;精度高,测量时间短,人为误差小,操作者劳动强度低;本发明X荧光测重金属仪无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠,使用方便。

著录项

  • 公开/公告号CN109596656A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东华理工大学;

    申请/专利号CN201910031385.0

  • 发明设计人 张焱;汤彬;王仁波;张雄杰;

    申请日2019-01-14

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构36100 江西省专利事务所;

  • 代理人胡里程

  • 地址 344000 江西省抚州市市辖区抚州市学府路56号

  • 入库时间 2024-02-19 07:58:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    公开

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