一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质

摘要

本发明提供了一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质，所述方法包括以下步骤：预先设置关键信号信息，并以第一预设格式文件进行存储；所述关键信号信息包括至少一个关键信号名称、关键信号位宽和关键信号路径；将第一预设格式文件转换为第二预设格式文件；创建新的顶层文件，将所创建的顶层文件作为新的验证对象进行仿真验证，并输出仿真结果；第二预设文件中包含的关键信号通过指针指向原始待验证电路中名称一致的关键信号。当某一些关键信号的验证覆盖率未达到预设要求时，测试人员可以根据第二预设格式文件中的测试结果，可以有针对性地修改这些关键信号对应的测试用例再次进行仿真验证，有效解决了验证不充分的问题。