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高分辨率巴克豪森噪声与增量磁导率扫查成像系统

摘要

本发明公开了高分辨率巴克豪森噪声与增量磁导率扫查成像系统,由上位机控制多功能电磁检测装置对铁磁性块体或磁性薄膜材料进行局域化巴克豪森噪声、涡流和增量磁导率等特征磁信号检测,上位机中的软件能从检测的特征磁信号中提取至少十四项磁参量;采用三轴运动平台搭载电磁检测装置中的磁头对铁磁性块体或磁性薄膜材料进行平面扫查,得到磁参量的空间分布成像结果;改变磁头采用的磁芯末端空气间隙宽度0.2~10μm,磁头的横向分辨率可在10~100μm范围内进行调整。通过测得试件表面多种磁参量的分布状态,实现磁特性成像,以反映材料内部微观结构和残余应力的分布状态。

著录项

  • 公开/公告号CN109407018A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201811058264.7

  • 申请日2018-09-11

  • 分类号G01R33/12(20060101);G01N27/72(20060101);G01N27/90(20060101);G01L5/00(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2024-02-19 07:45:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/12 申请日:20180911

    实质审查的生效

  • 2019-03-01

    公开

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