首页> 中国专利> 用于X射线成像的大面积CdZnTe单晶制备方法

用于X射线成像的大面积CdZnTe单晶制备方法

摘要

本发明公开了一种用于X射线成像的大面积CdZnTe单晶制备方法,用于解决现有CdZnTe单晶制备方法难以生长大面积的CdZnTe单晶的技术问题。技术方案是将生长的CdZnTe多晶锭切片作为升华源,将GaAs(100)衬底经过化学腐蚀、超声清洗,再升华源与GaAs(100)衬底放入生长腔室,调整好升华源与GaAs(100)衬底之间的距离,关闭炉门,对生长腔室抽真空并保持真空度,缓慢升温到设定温度,每生长一段时间即降温到一定温度保温一段时间,生长结束后缓慢降温,再自然冷却,得到CdZnTe单晶,将生长好的CdZnTe晶体经过处理后叠层生长,得到高质量的大面积CdZnTe单晶。

著录项

  • 公开/公告号CN109487339A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北工业大学;

    申请/专利号CN201910003032.X

  • 申请日2019-01-03

  • 分类号

  • 代理机构西北工业大学专利中心;

  • 代理人王鲜凯

  • 地址 710072 陕西省西安市友谊西路127号

  • 入库时间 2024-02-19 07:36:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B29/48 申请日:20190103

    实质审查的生效

  • 2019-03-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号