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基于低一等级精度的电阻实现高一等级精度使用的方法

摘要

本发明涉及的电子设备技术领域,具体涉及一种基于低一等级精度的电阻实现高一等级精度使用的方法。获取中心阻值为R,精度为m的电阻若干;对中心阻值为R,精度为m的电阻的实际阻值进行测量;在测量后的电阻中选取实际阻值差距在R*m*0.1内的若干个电阻进行使用。采购低一等级精度电阻,可以直接当作高一等级精度的电阻应用到各个测试设备中,大大的节约了成本。

著录项

  • 公开/公告号CN109470921A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉市蓝电电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201811138345.8

  • 发明设计人 王贵斌;

    申请日2018-09-28

  • 分类号

  • 代理机构武汉开元知识产权代理有限公司;

  • 代理人俞鸿

  • 地址 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新四路28号武汉光谷电子工业园3期7号厂房栋4层01号

  • 入库时间 2024-02-19 07:28:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20180928

    实质审查的生效

  • 2019-03-15

    公开

    公开

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