一种芯片引脚光学检测系统

摘要

本发明公开了一种芯片引脚光学检测系统，包括芯片发送器、滑动导轨、聚光室、和成像镜头，所述芯片发送器设置在滑动导轨的顶端，在滑动导轨上沿着滑动导轨方向设有滑槽，聚光室固定在滑动导轨上，滑槽从的聚光室两侧穿过，被滑槽穿过的聚光室两侧设有通口，通口上设有可升降遮光板，在位于聚光室内的滑槽底部设有可伸缩阻挡块，芯片沿滑槽滑下被阻挡在可伸缩阻挡块上方，在聚光室正对滑槽的一面设有成像口，成像口外部设有成像镜头，成像镜头通过成像口正对芯片和芯片引脚，在聚光室内壁上环绕着芯片引脚设有若干聚光灯。其应用时，可以对芯片引脚进行自动化光学成像检测，提高检测效率，并设置独特的照明系统，提高光学成像质量。