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一种折射率和温度同时测量的全光纤传感器及其测量方法

摘要

本发明提供了一种折射率和温度同时测量的全光纤传感器及其测量方法。全光纤传感器包括宽带光谱光源、光纤传感头和光谱分析仪,所述光纤传感头的输入端口与宽带光谱光源通过光纤连接,所述光纤传感头的输出端口与光谱分析仪通过光纤连接。测量方法,包括将光纤传感头放入待测环境中;通过光谱分析仪和计算机测得干涉条纹谷值波长的移动范围;然后利用数学方法处理后获得折射率和温度的变化值;本发明的一种折射率和温度同时测量的全光纤传感器及其测量方法,可以消除折射率测量时存在潜在的温度交叉敏感性问题并且可以提高测量折射率和温度的精确度,具有结构简单、成本低、操作方便而且测量范围大的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109470309A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南师范大学;

    申请/专利号CN201811481442.7

  • 申请日2018-12-05

  • 分类号G01D21/02(20060101);G01D5/353(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人江裕强

  • 地址 510631 广东省广州市天河区中山大道西55号华南师范大学光子信息技术实验室

  • 入库时间 2024-02-19 07:24:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D21/02 申请日:20181205

    实质审查的生效

  • 2019-03-15

    公开

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