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一种折射率温度同时测量的光纤传感器及制备方法

摘要

本发明公开了一种折射率温度同时测量的光纤传感器及制备方法,包括双包层光纤、输入光纤和输出光纤,输入光纤和输出光纤分别与双包层光纤两端焊接连接;所述双包层光纤由外至内依次为高折射率包层、低折射率包层和纤芯,双包层光纤端面具有高‑低‑高折射率分布,将双包层光纤中部通过熔融拉锥技术制成锥形光纤,锥形光纤表面沉积一层金膜且金膜厚度满足产生SPR现象;锥形光纤外层高折射率包层通道产生SPR现象,内层高折射率纤芯通道产生模间干涉。本发明制作简单,成本低,交叉串扰小,在折射率传感领域具有较大的竞争力和应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN112665658A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN202110075616.5

  • 申请日2021-01-20

  • 分类号G01D21/02(20060101);G01N21/41(20060101);G01K11/32(20210101);G02B6/255(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

  • 入库时间 2023-06-19 10:38:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-09

    授权

    发明专利权授予

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