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位于不同接触区域层级上的接触方案

摘要

本发明涉及位于不同接触区域层级上的接触方案。本公开涉及半导体结构,更具体地,涉及用于位于半导体结构的不同接触区域层级上的接触方案及其制造方法。该结构包括:在结构的第一层级处的第一接触;在结构的第二、更高层级处的跨接接触;蚀刻停止层,其具有在第一接触之上的开口,并且部分地包封跨接接触并具有暴露跨接接触的开口;以及通过开口与第一层级处的第一接触和第二、更高层级处的跨接接触电接触的接触。

著录项

  • 公开/公告号CN109300876A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格芯公司;

    申请/专利号CN201711017950.5

  • 发明设计人 C·K·彼得斯;P·巴尔斯;

    申请日2017-10-26

  • 分类号H01L23/528(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人李峥;于静

  • 地址 开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2024-02-19 07:20:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/528 申请日:20171026

    实质审查的生效

  • 2019-02-01

    公开

    公开

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