基于多层闪烁晶体探测器的系统均匀性校正方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于多层闪烁晶体探测器的系统均匀性校正方法及装置，其中，方法包括以下步骤：根据晶体的排列信息和探测器系统的设计信息对多个系统均匀性的影响因素分别建立因素模型；利用探测器系统对用于均匀性矫正的实体模型进行数据采集，以得到实验数据；对实验数据进行重组和处理，以分别获取均匀性校正中每项因素模型的相关参数；整合每项因素模型的相关参数生成均匀性校正表，并根据均匀性校正表对基于探测器的系统进行均匀性校正。该方法可以对基于多层闪烁晶体探测器的成像系统的均匀性进行校正，从而提高成像系统的图像质量。