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一种用ICP-OES测定钨渗铜中铜元素含量的方法

摘要

本发明属于理化检测领域,具体涉及一种用ICP‑OES测定航天用钨渗铜中铜元素含量的方法,包括下述步骤:(1)制备样品溶液,(2)配置工作曲线溶液,(3)ICP‑OES检测,在设定的ICP光谱仪工作条件下,依次测定空白溶液和工作曲线中铜元素的光谱强度,建立工作曲线;将制备的样品溶液引入ICP光谱仪,测定铜元素所对应的发射光强度,根据工作曲线确定样品中铜元素的含量。本发明用ICP‑OES法测定钨渗铜中铜元素含量的方法的建立,可以实现对钨渗铜中铜元素的快速有效检测,能够为钨渗铜材料的质量控制提供方法依据,具有实际应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN109211881A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京星航机电装备有限公司;

    申请/专利号CN201811323571.3

  • 发明设计人 张剑军;苏晓文;夏炎;

    申请日2018-11-08

  • 分类号G01N21/73(20060101);

  • 代理机构11011 中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人赵晓宇

  • 地址 100074 北京市丰台区云岗东王佐北路9号

  • 入库时间 2024-02-19 07:03:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/73 申请日:20181108

    实质审查的生效

  • 2019-01-15

    公开

    公开

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