一种低序列依赖高阶恒温指数扩增检测microRNA的方法

摘要

本发明公开了一种低序列依赖高阶恒温指数扩增检测microRNA的方法，该方法通过设计特定的能够检测目标microRNA的模板T1和T2，将模板T1和T2、DNA聚合酶、切刻内切酶、dNTP混合，并于35～50℃条件下反应，检测扩增曲线，根据扩增曲线和标准曲线判定样品中是否含有目标microRNA，本发明方法能够进一步计算出样品中目标microRNA的具体含量。本发明方法扩增效率高，灵敏度高，缩短了分析时间；该方法对目标microRNA的序列依赖性小，通用性强；检测线性范围宽，特异性好；扩增体系简单，可发展成为试剂盒并向市场推广。