一种用于AI手机芯片的基准测试系统及其工作流程

摘要

本发明公开了一种用于AI手机芯片的基准测试系统及其工作流程，包括芯片检测模块、加载模块和测试模块，芯片检测模块，用于检测手机终端搭载的芯片类型；加载模块，用于根据手机终端的芯片下载特定芯片支持结构的模型文件以及数据集文件，测试模块，用于在手机终端上运行集成基准测试用例，收集测试结果，形成可读的报告。本发明设计合理，通过在芯片上运行经典的图片分类神经网络模型收集的指标来对芯片的AI能力进行评测；同时，本发明的底层兼容了市面上大部分芯片厂商的AI能力接口，从而提供了一个通用、高效的评测系统，从而为开发测试、生产上线输出测试报告，使用前景广阔。