一种可测得其在工作状态下的温度分布的光纤环及其绕制方法

摘要

本发明公开了一种可测得其在工作状态下的温度分布的光纤环及其绕制方法，光纤由保偏光纤和测温光纤两种构成，光纤环总层数为10*N+M，N和M为不小于1的整数，每10层为一个绕制单元，每个绕制单元结构相同，第10*N+1层到10*N+M层为由测温光纤绕制的保护层；每个绕制单元第一层和第六层为采用双极对称绕法绕制的测温光纤层，第二层至第五层及第七层至第十层均是采用四极对称绕法绕制的保偏光纤层，所有绕制单元的测温光纤层以及保护层由一根测温光纤绕制形成，所有绕制单元的保偏光纤层由一根保偏光纤绕制形成。由于在绕制时采用了保偏光纤和测温光纤，可以测得处于工作状态下的光纤陀螺中光纤环的温度分布情况，以便能够对光纤陀螺的温度场进行优化。