基于最优尺度高斯过程模型的IGBT剩余寿命预测方法

摘要

本发明涉及一种基于最优尺度高斯过程模型的IGBT剩余寿命预测方法，包括以下步骤：获取不同型号IGBT的集电极‑发射极饱和压降变化百分比数据；选取一个型号的数据作为模型的启动数据，并将启动数据划分为训练样本和测试样本；建立最优尺度高斯过程模型，并将启动数据输入到建立的最优尺度高斯过程模型中，求得测试样本处的预测值；利用蚁狮优化算法寻优找到最优的尺度和尺度函数；利用最优尺度高斯过程模型来预测其他型号IGBT的剩余寿命。本发明利用OSGP模型对IGBT模块的剩余寿命进行预测，并引入了小波分析方法中的尺度和尺度函数，可以较好的刻画数据的非平稳特征，大大降低了局部陷入极值的可能性，提高了收敛精度，预测结果准确可靠。