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接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质

摘要

本发明提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。本发明提供的方法及设备自动生成并维护测试用例,减少重复的劳动,减轻测试人员的日常工作负担,用以节省不必要的维护成本。

著录项

  • 公开/公告号CN109254920A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精数信息科技有限公司;

    申请/专利号CN201811041574.8

  • 发明设计人 潘林圣;侍小欣;

    申请日2018-09-06

  • 分类号G06F11/36(20060101);

  • 代理机构31282 上海隆天律师事务所;

  • 代理人臧云霄;潘一诺

  • 地址 200333 上海市普陀区真北路958号20幢1354室

  • 入库时间 2024-02-19 06:45:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/36 申请日:20180906

    实质审查的生效

  • 2019-01-22

    公开

    公开

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