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基于波长扫描的光谱共焦位移测量方法及装置

摘要

本发明属于光电测量领域,为实现非接触位移精密测量,同时测量精度高、快速、易操作,本发明,一种基于波长扫描的光谱共焦位移测量装置,包括如下部分:波长扫描光源、输入光纤、光纤耦合器、针孔、色散物镜、输出光纤、光电探测器,波长扫描光源输出单色光,波长在上下限波长范围内来回扫描,光源发出的单色光耦合进输入光纤,输入光纤接入光纤耦合器,光纤耦合器输出至针孔形成点光源,单色光通过色散物镜汇聚至光轴上某一焦点处,在波长扫描过程中不同波长的单色光可形成一系列焦点,在特定时刻,某单色光的焦点恰好与待测表面重合,焦点处的反射光经光电探测器转换为电压信号。本发明主要应用于光电测量场合。

著录项

  • 公开/公告号CN109163662A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201811013535.7

  • 申请日2018-08-31

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人刘国威

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2024-02-19 06:44:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20180831

    实质审查的生效

  • 2019-01-08

    公开

    公开

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