Metal oxide semiconductors; Semiconductor devices; Accelerated life tests; Thermal stresses; Aging(Materials); Mathematical models; Field effect transistors; Failure modes; Finite element method; Electric potential; Algorithms; Degradation; Aircraft control;
机译:使用回波状态网络和粒子滤波器的热应力下功率MOSFET的预测方法
机译:基于
机译:“通过主动热控制”限制功率MOSFET中的电源循环应力“
机译:功率MOSFET会因电气过应力和预测而加速老化
机译:电应力源对功率MOSFET降解过程影响的建模
机译:拟议的双边沿触发静态D型触发器中的MOSFET沟道宽度和电源电压的多目标优化采用模糊非支配排序遗传算法II
机译:功率MOSFET的电气过应力和预测功能可加速老化