Alpha Reactions; Aluminium 27 Target; Chromium 52 Target; Copper 63 Target; Copper 65 Target; Deuteron Reactions; Energy Losses; Helium 3 Reactions; I Codes; Iron; Iron 56 Target; Mev Range 01-10; Mev Range 10-100; Molybdenum; Nickel; Proton Reactions; Radioactivation; T Codes; Titanium; Titanium 48 Target; Tungsten; Zinc;
机译:二次离子质谱(SIMS)的深度分辨率与薄层深度剖面中优先溅射的相关性
机译:在iThemba LABS Gauteng设立的新型重离子ERDA:使用直接计算和蒙特卡洛模拟代码进行多层薄膜深度剖析
机译:ISO / TC 201标准摘要:IV ISO 14606:2000-表面化学分析-溅射深度剖析-使用分层系统作为参考材料进行优化
机译:用SIMS对nm薄层进行深度剖析
机译:响应深泥炭变暖和环境条件的泥炭深度剖面内微生物群落组成的delta13CPLFA分析。
机译:跨膜层中精细尺度深度范围内的类Co足类脂含量的种内差异。
机译:在iThemba LaBs Gauteng设置的新型重离子ERDa:使用直接计算和蒙特卡罗模拟代码的多层薄膜深度剖析
机译:薄层二次离子质谱图像深度剖面分析。